更新時(shí)間：2024-06-16
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| 品牌 | 其他品牌 | 貨號(hào) | 123 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | CSG-40-80-2UH-SP | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 機(jī)械設(shè)備 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
接觸形式與測頭的選擇
在接觸測量中，體現(xiàn)被測參數(shù)的表面與量儀之間的接觸形式分為三種:點(diǎn)接觸形式，如球形測頭與平面工件接觸;線接觸形式哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP，如平面測頭與圓柱形工件表面接觸;面接觸形式，如平面測頭與平面工件接觸。
接觸形式對測量結(jié)果有影響。正確選擇接觸形式的原則是優(yōu)先考慮采用點(diǎn)接觸;在條件不允許或?qū)崿F(xiàn)較為困難時(shí)，哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP考慮采用線接觸;不得已時(shí)才采用面接觸。
對線紋尺的檢定方法有相對測量法和測量法。在相對測量法檢定線紋尺中，將被檢定線紋尺與比其精度等級(jí)高一等的標(biāo)準(zhǔn)線紋尺在線紋尺比較儀上作相對測量，讀出二者刻線間距的長度差，從而確定被檢線紋尺刻線間距的誤差。在測量法檢定線紋尺中，將被檢線紋尺在激光干涉比長儀上進(jìn)行測量。其實(shí)質(zhì)是將被檢線紋尺的刻線間距轉(zhuǎn)變成為三面直角棱鏡的位移，從而使干涉系統(tǒng)中兩相干光束的光程差發(fā)生相應(yīng)的變化，通過光電接收器對干涉條紋明暗交替次數(shù)的檢測，即可求出被檢線紋尺相應(yīng)刻線間距的誤差在線紋量值傳遞系統(tǒng)中，
